產品名稱：二手JEOL場發(fā)射電鏡7001F
產品型號：
更新時間：2021-08-17
產品特點：二手JEOL場發(fā)射電鏡7001F熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡,是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。JSM-7001F具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。
產品詳細資料：
二手JEOL場發(fā)射電鏡7001F日本電子熱場發(fā)射掃描電鏡JSM-7001F（Thermal Field Emission SEM）是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。JSM-7001F具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑最大為200mm的樣品。
計算機接口是新的Windows® XP系統，操作簡單，具有快速簡單地切換操作模式的功能鍵。最多可同時查看包括混合信號的四幅實時圖像，單次掃描就可以記錄并馬上存儲全部的四幅圖像。
JSM-7001F掃描電子顯微鏡還支持與EDS、WDS、電子束光刻系統和圖像數據庫的整體化。標準的樣品臺自動化由計算機控制5軸：X、Y、Z、傾斜和對中自轉。
低真空操作
JSM-7001FLV場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有高分辨率性能，可以在中至高電壓千伏（kV）和更高的束流下對非導電樣品進行成像。因此無需在樣品上鍍金屬膜或碳膜以供導電，即可施用EDS、背散射成像、EBSD等分析技術。這在以下情況中特別有用: 樣品不能修改時，尚需后續(xù)測試時，或尚需返回產品線時。
低真空模式規(guī)格
樣品室壓力：最大50 Pa
分辨率：3.0nm（30kV）(BEI)
槍室壓力：5 x 10-7 Pa或更小
采用的氣體：干燥氮氣
二手JEOL場發(fā)射電鏡7001F儀器參數:
二次電子分辨率: 1.4nm (1 kV，減速模式)
1.0nm (15kV)
電子光學：
電子槍: 冷場發(fā)射電子源
加速電壓: 0.5~30kV(0.1KV/步，可變)
放大倍率: x 20~ x 800,000
物鏡光闌: 4孔，真空外選擇和調校(內置加熱器)
檢測器: 二次電子檢測器 (高位/低位)
背散射電子檢測器(可選)
EDX(可選)
透射電子檢測器(可選)
法拉第杯(可選)
陰極熒光檢測器(可選)
樣品臺: l型:
X: 0~50mm Y: 0~50mm
Z:1.5~30mm T: -5~+70°R:360°
驅動:手動(可選3軸驅動)
ll型:
X: 0 ~110 mm Y: 0 ~110mm
Z: 1.5 ~40 mm T: -5 ~+70°
R: 360°驅動:PC機控制5軸驅動
圖像顯示:
操作/顯示: PC/AT 兼容,
操作系統： WindowsTM 2000
18.1" 平面顯示器
掃描模式: 標準，Split/dual mag./linescan, position
set, spot, AAF, SAA, oblique
畫面儲存: 640 x 480, 1,280 x 960,
2,560 x 1,920,5,120 x 3,840
圖像編輯: 內置圖像處理軟件和圖像編輯軟件
圖像文件格式: BMP, TIFF, JPEG
掃描速度: TV, 慢速 (0.5 ~ 40 s/幀) 用于觀察
慢速 (40 ~ 320 s/幀) 用于記錄
成像過程: 自動調節(jié)亮度和對比度
光柵旋轉，自動聚焦，自動像散校正，
平均，幀積分，偽彩色顯示
自動數據記錄: 膠卷號，加速電壓，微米標尺，放大
倍率，日期，時間，工作距離
電子圖像移動: ±12u( W.D. = 8 mm)
真空系統: *氣閥自動調節(jié)
離子泵 3 臺
渦輪分子泵(磁浮型) 1 臺
機械泵 1 臺
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