產(chǎn)品名稱：島津進(jìn)口紫外分光光度計(jì)
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2023-08-28
產(chǎn)品特點(diǎn)：島津進(jìn)口紫外分光光度計(jì),*高靈敏度，深紫外區(qū)檢測(cè)，大樣品室,同時(shí)滿足于光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD在以下方面的檢測(cè)需求。
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
島津進(jìn)口紫外分光光度計(jì)主要用于測(cè)定液體樣品以及固體樣品的測(cè)量設(shè)計(jì)。
島津進(jìn)口紫外分光光度計(jì)SolidSpec-3700/3700DUV的UVProbe軟件包括光譜模塊，光度模塊，動(dòng)力學(xué)及報(bào)告模塊等功能。多重的安全性及可追蹤性能確保的數(shù)據(jù)的安全可靠性。
,*高靈敏度，深紫外區(qū)檢測(cè)，大樣品室,同時(shí)滿足于光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD在以下方面的檢測(cè)需求。
分辨率:
采用高性能雙單色器，實(shí)現(xiàn)高分辨率（zui高分辨率0.1nm）和超低雜散光（340nm處雜散光0.00005%以下）。
波長范圍:
測(cè)定波長范圍為185nm-3300nm，可在紫外、可見、近紅外的廣闊范圍進(jìn)行測(cè)定。可應(yīng)對(duì)廣泛領(lǐng)域的測(cè)定要求。
FPD：
材料評(píng)估中NIR和大樣品的高靈敏度測(cè)定。
半導(dǎo)體：
短波長激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區(qū)測(cè)定。
光通信：
減反射膜NIR高靈敏度測(cè)定。
光學(xué)：
從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析
拓展性:
直接受光單元DDU/DDU-DUV對(duì)于液、固樣品透過率測(cè)定
自動(dòng)X-Y樣品臺(tái)（自動(dòng)測(cè)量）
大型鏡面反射附件
氮?dú)饬髁垦b置
鏡面反射附件(5°12°30°45°)
積分球刪除樣品盤
| 如果你對(duì)此產(chǎn)品感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
